主要用途:
應(yīng)用范圍:
符合標(biāo)準(zhǔn):
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件;
2.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;
3.GB2423.1低溫試驗A;
4.GB/T2423.34-2005低、溫度循環(huán)試驗;
5.GB/T2423.1~2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗。A:低溫試驗方法》。
技術(shù)參數(shù):
1.溫度范圍:+20℃~ 0℃ / -10℃ / -20℃ / -30℃ / -40℃ /-50℃ / -60℃ / -70℃ / -85℃。
2.控制穩(wěn)定度:±0.5℃。
3.分布均勻度:±1.5℃。
4.溫度偏差:≤±2℃。
5.正常升溫時間:+20℃ ~ +150℃小于45分鐘非線性空載。
6.正常降溫時間:+20 ~-85℃小于100分鐘,+20~-70℃小于80分鐘,+20~-60℃小于70分鐘,+20~-50℃小于65分鐘,+20~-40℃小于60分鐘,+20~-20℃小于45分鐘非線性空載。
7.試驗速率:10 ~ 60次/分可調(diào)。
8.彎曲角度:10°~ 180°可調(diào)。
9.試驗工位:每次同時進行2組。
10.彎曲次數(shù):0 ~ 999999可預(yù)置。
留言注意事項:
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